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晶體管IV曲線圖示儀特點：
多功能：可作源和負載，又能測；
高效率：滿足多種測試需求；
可編程控制：高精度可調，靈活控制；
IV掃描：快速、直觀顯示，一步操作。
應用領域：
分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等
傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等
有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等
納米材料特性測試，石墨烯、納米線等
測試功能：
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微電路 |
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1 |
晶圓 |
L-IV測試，輸入曲線、輸出曲線 |
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2 |
芯片 |
L-IV測試，輸入曲線、輸出曲線 |
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器件 |
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1 |
二極管 |
正向導通電壓、正向電流、反向擊穿電壓、反向漏電流 |
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2 |
三極管 |
L-IV測試，輸入曲線、輸出曲線 |
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3 |
MOSFET |
L-IV測試，輸入曲線、輸出曲線 |
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4 |
IGBT |
L-IV測試，輸出曲線、轉移曲線 |
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5 |
晶閘管 |
正向電壓電流曲線、反向電壓電流曲線、觸發特性 |
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電池 |
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1 |
鋰電池 |
IV測試，充放電掃描曲線 |
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2 |
光伏電池 |
IV測試，放電掃描曲線 |
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材料 |
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1 |
石墨烯 |
IV測試、輸入曲線、輸出曲線 |
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2 |
納米線 |
IV測試、輸入曲線、輸出曲線 |
S系列源表特點：
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5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作
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內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV
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源及測量的準確度為0.1%，分辨率5位半
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四象限工作（源和肼），源及測量范圍：高至300V，低至10pA
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豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描
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支持USB存儲，一鍵導出測試報告
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支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網
應用優勢：
1、 多功能測量需求下的廣泛的適應性，電壓高300V，電流低至100pA；
2、 實現“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率。
3、 具備對測試器件的保護功能，可進行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害；
精確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護功能，避免器件損壞。
4、 觸屏圖形化操作，使用簡單。開放式平臺，可根據實際應用的需求而針對性的開發軟件。
國產優勢
1、自主研發，符合大環境下國內技術自給的需求；
2、性價比高；
3、可及時與客戶溝通，為客戶提供高性價比系統解決方案。及時指導客戶編程，加速測試系統開發。
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